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NXP Semiconductors
ESD TESTER
NUP1301
Ultra low capacitance ESD protection array
4 GHz DIGITAL
acc. to IEC 61000-4-2
C Z = 150 pF; R Z = 330 ?
RZ
450 ?
RG 223/U
50 ? coax
10 ×
OSCILLOSCOPE
ATTENUATOR
CZ
DUT
(DEVICE
UNDER
TEST)
50 ?
GND
GND
vertical scale = 10 A/div
horizontal scale = 15 ns/div
unclamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
vertical scale = 10 A/div
horizontal scale = 15 ns/div
unclamped ? 8 kV ESD pulse waveform
GND
GND
vertical scale = 10 V/div
horizontal scale = 15 ns/div
clamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network), pin 3 to 1 and 2
vertical scale = 10 V/div
horizontal scale = 15 ns/div
clamped ? 8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
(IEC 61000-4-2 network), pin 3 to 1 and 2
006aab567
Fig 7.
NUP1301_1
ESD clamping test setup and waveforms
? NXP B.V. 2009. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 01 — 11 May 2009
7 of 13
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